平面度标准块由特殊陶瓷制成,我们的特殊陶瓷与Al2O3制成的陶瓷平面度标准块相比,优势在于可在不同光照环境条件下测量,无需预处理或后期处理。表面漫反射特性符合VDI/VDE 2634准则。
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由特殊陶瓷制成,与传统Al2O3陶瓷相比具有更优异的测量性能和稳定性
可在不同光照环境条件下直接测量,无需任何预处理或后期处理步骤
表面漫反射特性符合VDI/VDE 2634准则,确保测量结果的准确性和可靠性
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